半導体の原点を探るプロ用計測ツール!
高性能プローブ!
半導体分野で求められる電気特性検査として素材の抵抗率やI.C電圧測定があり、これらはプローブの負荷要素が測定精度に大きく影響を及ぼします。NPSは、高精度測定のための4探針プローブ、FETプローブ(0.02pF)、また、マイクロ波回路用低損失プローブ(<0.5db@40GHz)等の高性能プローブを取扱っております。
  • MODEL35 FETプローブ dc-26GHz, 1.25Mohm, 0.05pF, 14ps
  • MODEL18 FETプローブ dc-350MHz, 0.02pF 1.2ns
  • LCP 18 マイクロ波プローブ dc-18GHz 挿入損失<0.4dB
  • MODEL 1100B テラ波帯プローブ 750-1100GHz
  • MODEL40KV 100Watts 150VCW@28GHz
  • 4探針プローブ 1mm,0.635mmピッチ 薄膜シート抵抗、抵抗率測定 
  • MODEL MTF100 マイクロ波テストテーブル
キャンペーン情報
アカデミック研究用、また、モニターを対象とした特別価格品をご提供!
企業名 エヌピイエス㈱
URL https://www.nps-i.co.jp/
TEL 03-3684-2548
E-mail sales@nps-i.co.jp
  • 2025年2月