半導体の原点を探るプロ用計測ツール!
高性能プローブ!
半導体分野で求められる電気特性検査として素材の抵抗率やI.C電圧測定があり、これらはプローブの負荷要素が測定精度に大きく影響を及ぼします。NPSは、高精度測定のための4探針プローブ、FETプローブ(0.02pF)、また、マイクロ波回路用低損失プローブ(<0.5db@40GHz)等の高性能プローブを取扱っております。
- MODEL35 FETプローブ dc-26GHz, 1.25Mohm, 0.05pF, 14ps
- MODEL18 FETプローブ dc-350MHz, 0.02pF 1.2ns
- LCP 18 マイクロ波プローブ dc-18GHz 挿入損失<0.4dB
- MODEL 1100B テラ波帯プローブ 750-1100GHz
- MODEL40KV 100Watts 150VCW@28GHz
- 4探針プローブ 1mm,0.635mmピッチ 薄膜シート抵抗、抵抗率測定
- MODEL MTF100 マイクロ波テストテーブル
キャンペーン情報
アカデミック研究用、また、モニターを対象とした特別価格品をご提供!